수명 시험 평가 ⭐ 가속 수명 시험의 목적일정한 기간 동안 주어진 조건 하에서 연관된 factor들이 많기 때문에 가속 계수를 이용한 방법을 가속 수명 시험이라 한다.⭐ 고장률 수명 곡선은 Bath Tube 형태이고 3가지가 있다.⭐ 반도체 고장 유형 분석의 목적가속 계수를 산출함으로써 신뢰성(예상 수명시간)을 예측할 수 있고 개선 대책을 수립할 수 있다. ⭐ 수명 시험에서 발생 가능한 고장 유형 - Electro-Migration (EM) 의 유형별 분류 : Metal-Migration, Contact-Migration, Stress-Migration-   Hot Electron영향 : Latch up 유발 ⭐ 불량 분석 기법-      전기적 분석 (Electrical Analysis)(가)  DC ..